| 产品特性：迁移率测试 | 是否进口：否 | 产地：中国 |
| 加工定制：是 | 品牌：Oriental Spectra | 型号：FlyTOF |
型号：FlyTOF
名称：飞行时间法迁移率测量仪
品牌：Oriental Spectra
应用：半导体迁移率测试
产地：中国
产品关键词：载流子迁移率、电子迁移率、空穴迁移率、渡越时间、飞行时间、TOF、载流子寿命、迁移率寿命积、瞬态光电流、水平载流子、横向TOF、横向载流子、二维载流子成像mapping
FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广/泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（
metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。
FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成，是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。
专/业的信号调教，电磁兼容噪声小；
软件自动控制，测试快速便捷；
快速换样装置，惰性气体氛围测试；
可实现宽温度范围的变温测试（选配）；
可灵活耦合各种类型的激发光源。
根据不同的半导体材料种类、制备条件、纯度等,FlyTOF的测试信号有很大的差异，研究人员可以根据这些信号对目标半导体的性质进行深入研究。
提供1年质保期。
按约定时间发货
产品关键词：载流子迁移率、电子迁移率、空穴迁移率、渡越时间、飞行时间、TOF、载流子寿命
